Productbeschrijving:
Qualtech Products Industry QPI‑IRRM Series UV‑VIS‑NIR Infraroodreflectiemeter is a high‑accuracy UV‑VIS‑NIR High-Precision Reflectance Spectrophotometer engineered for professional laboratories, optical research facilities, and industrial quality‑control environments. Designed to measure surface reflectance across the 250 nm to 1700 nm spectrum, this Oppervlaktereflectiemetinginstrument delivers precise, repeatable, and calibration‑stable results for a wide range of materials including solar coatings, electronic board finishes, silicon wafers, metallic mirrors, pigments, paint films, foils, plastics, ceramics, textiles, powders, pastes, paper, cardboard, wood, and engineered surfaces.
Built around a dual‑measurement architecture, the Infrared Reflectance Analyzer combineert een 45° directional reflectance camera with an 8° & 90° integrating sphere featuring >98% internal reflection, enabling both directional and diffuse reflectance evaluation with exceptional accuracy. With 1 nm wavelength interval resolution, 1% repeatability, en measurement times from 1 to 10 seconds, dit Spectrale reflectiemeter provides fast, reliable data for optical performance evaluation and material development.
Advanced UV‑VIS‑NIR Reflectance Technology
De Infraroodreflectiemeter captures the full spectral behavior of a surface, generating detailed Spectral Reflectance Curves essential for analyzing:
Infrared reflectance behavior
UV‑VIS‑NIR spectral response
Coating uniformity and thickness
Surface treatment effectiveness
Material absorption and scattering
Reflective color characteristics
Reflectance is measured at 45°, 8°, and 90° geometries, allowing engineers to evaluate both directional and diffuse reflection under controlled optical conditions.
High‑Precision Optical Measurement System
De Infrarood-reflectiespectrofotometer integrates:
45° high‑precision reflectance camera
8° & 90° integrating sphere (>98% reflection)
Advanced infrared/visible/UV light source
1 nm wavelength interval resolution
Automatic calibration with certified reference standard
Instant measurement cycles (1–10 seconds)
1% accuracy and 1% repeatability
Optional custom wavelength configurations
This optical system ensures stable, repeatable measurements suitable for both laboratory research and industrial production environments.
Model Range – UV‑VIS‑NIR Reflectance Measurement Line
Infrared Reflectance Meter 250–800 nm
UV‑VIS reflectance analysis for coatings, pigments, and optical materials requiring near‑UV evaluation.
Infrared Reflectance Meter 400–1000 nm
VIS‑NIR reflectance measurement for solar coatings, industrial surfaces, and general optical testing.
Infrared Reflectance Meter 900–1700 nm
Deep‑NIR reflectance analysis for semiconductor materials, silicon wafers, and advanced optical substrates.
All models support custom wavelength configurations for specialized applications.
Spectral & Colorimetric Analysis Software
De Reflectance Measurement Software provides:
Real‑time spectral reflectance curves
Lab and XYZ colorimetric reflectance analysis
Multi‑sample comparison tools
Data export (CSV, PDF, image formats)
Network storage integration
Automated reporting and documentation
Long‑term data archiving and sharing
Engineers can instantly visualize, compare and document reflectance behavior across the full UV‑VIS‑NIR spectrum.
Designed for Engineering Precision
De Infraroodreflectiemeter combines advanced optical engineering with practical usability:
Intuitive menu navigation
Ergonomic sample handling
Fast measurement cycles
Robust industrial chassis
Seamless PC connectivity
Reliable long‑term performance
Whether used in R&D, production quality control, or optical material development, this professional UV‑VIS‑NIR Reflectance Spectrophotometer delivers the precision, stability, and analytical depth required by modern engineering workflows.
This professional UV-VIS High-Precision Reflectance Meter is designed and engineered in accordance with international test standards including:
- ASTM E97 (Standaardtestmethoden voor de directionele reflectiefactor, 45°-0°, van ondoorzichtige proefstukken door middel van breedbandfilterreflectometrie)
- ASTM D1347 (Standaardtestmethode voor het meten van kleur en kleurverschillen door middel van tristimulus-colorimetrie)
- ISO 2814 (Verf en lak — Vergelijking van de contrastverhouding (dekkracht) van verfsoorten van hetzelfde type en dezelfde kleur)
- ISO 3905 (Verf en lak — Bepaling van de contrastverhouding (dekkracht) van lichtgekleurde verf bij een vast aanbrengvolume (met behulp van zwart-witte kaarten))
- ISO 3906 (Verf en lak — Bepaling van de contrastverhouding (dekkracht) van lichtgekleurde verf bij een vast aanbrengvolume (met behulp van polyesterfolie))
- ISO 6504-1 (Verf en lak — Bepaling van het dekkingsvermogen — Deel 1: Kubelka-Munk-methode voor witte en lichtgekleurde verf)
- ISO 7724 (Verf en lak — Colorimetrie — Deel 1: Beginselen)
- DIN 5033 (Colorimetrie; standaard colorimetrische systemen)
- BSI 13900-D4
UV-VIS-NIR Integrating Sphere Spectrophotometer 250nm–1700nm - Application:
De Infraroodreflectiemeter is een professional UV‑VIS‑NIR Reflectance Measurement Device designed for high‑precision surface analysis across the 250 nm to 1700 nm wavelength range. This desktop Reflectiespectrofotometer features automatic calibration and measures both surface reflectance en reflective color on a wide variety of materials including solar panels, electronic board coatings, silicon wafers, metallic mirrors, pigments, paint films, foils, plastics, ceramics, textiles, powders, pastes, paper, cardboard, wood, glass, metal, ink, and related sample surfaces.
Deze geavanceerde Oppervlaktereflectiemetinginstrument integrates a 45° high‑precision reflectance camera en een 8° & 90° optical integrating sphere met >98% internal reflection, enabling both directional and diffuse reflectance measurement. The system includes seamless PC connectivity, professional analysis software, and a certified calibration standard to ensure high‑accuracy measurements at the touch of a button.
Reflectance describes the ability of a surface to return incident light at a specified wavelength, angle, and polarization. The resulting Reflectiespectrum is displayed as a Spectrale reflectiecurve, providing detailed insight into material behavior across the UV‑VIS‑NIR range.
De Infraroodreflectiemeter supports 1 nm wavelength interval resolution, 1% repeatability, en measurement times from 1 to 10 seconds, enabling fast and reliable quality control for coatings, films, optical components, and engineered materials. Advanced analysis functions include Infrared Reflectance Spectrum Measurement, Spectral Color Measurement (Lab, XYZ)**, Reflective Film Analysis, Meting van de reflectiviteit van optische lenzen, Detectie van fosfor, Solar Panel Evaluation, Textile and Fabric Reflectance Measurement, Monitoring van chemische reflectie, and more.
Dual-Beam UV-Vis-NIR Spectrophotometer - NIR / MIR Surface & Coating Reflectance Meter - Features:
- De nieuwste technologie van Microchip
- De nieuwste technologie op het gebied van lichtbronnen
- De nieuwste cameratechnologie
- Zeer nauwkeurige reflectiecamera 45°
- Reflectantie-integratiesfeer 8° & 90°
- Directe reflectiemeting
- Onmiddellijke reflectieanalyse
- Analyse van het infraroodreflectiespectrum
- Kleurkeuze en analyse van kleurstalen
- Spectrale reflectantieanalyse van vaste monsters en poedermonsters
- Meting van de reflectiviteit van reflecterende en niet-reflecterende folie
- Standaardmeting van de reflectie
- Meting van de reflectiviteit van optische lenzen
- Detectie van fosfor
- Analyse van zonnepanelen
- Textielanalyse en weefselanalyse
- Monitoring van chemische reflectie
- Chemische analyse
- Bepaal de dekkracht en het verbergend vermogen met één druk op de knop
- Automatische kalibratie
- Gebruiksvriendelijke applicatie
- Gebruiksvriendelijke verwerking van monsters
- Intuïtieve menunavigatie
- Naadloze pc-connectiviteit en pc-software
- Professionele toepassing
- Hoge nauwkeurigheid en hoge precisie
- Ergonomisch ontwerp en betrouwbare prestaties
- Ontworpen in overeenstemming met internationale testnormen, waaronder ASTM 97, ASTM 1347, ASTM D4212, ISO 2814, ISO 3905, ISO 3906, ISO 6504-1, ISO 7724, DIN 5033, BSI 13900-D4
UV-VIS-NIR Integrating Sphere Spectrophotometer – Specifications:
| Model | QPI-IRRM1800 | QPI-IRRM2800 | QPI-IRRM3800 |
|---|---|---|---|
| Meetbereik | 0 - 100.0% | 0 - 100.0% | 0 - 100.0% |
| Meetgolflengte | 250 nm - 800 nm | 400 nm - 1000 nm | 900 nm – 1700 nm |
| Op maat gemaakte meetgolflengte | Optioneel verkrijgbaar | Optioneel verkrijgbaar | Optioneel verkrijgbaar |
| Meetmethode | Zeer nauwkeurige reflectiecamera 45° Reflectantie-integratiesfeer 8° & 90° | Zeer nauwkeurige reflectiecamera 45° Reflectantie-integratiesfeer 8° & 90° | Zeer nauwkeurige reflectiecamera 45° Reflectantie-integratiesfeer 8° & 90° |
| Golflengte-interval | 1 nm | 1 nm | 1 nm |
| Metingstijd | 2s | 1s | 10 seconden |
| Nauwkeurigheid | 1% | 1% | 1% |
| Herhaalbaarheid | 1% | 1% | 1% |
| Reflectie van een geïntegreerde bol | >98% | >98% | >98% |
| De nieuwste technologie op het gebied van lichtbronnen | Ja | Ja | Ja |
| Zeer nauwkeurige fotosensoren | Ja | Ja | Ja |
| Automatische kalibratie | Ja | Ja | Ja |
| Hoge precisie en hoge nauwkeurigheid | Ja | Ja | Ja |
| Gebruiksvriendelijke applicatie | Ja | Ja | Ja |
| Gebruiksvriendelijke verwerking van monsters | Ja | Ja | Ja |
| Intuïtieve menunavigatie | Ja | Ja | Ja |
| Naadloze pc-connectiviteit en pc-software | Ja | Ja | Ja |
| Uitstekende batterijduur | Ja | Ja | Ja |
| Ergonomisch ontwerp en betrouwbare prestaties | Ja | Ja | Ja |
| Ontworpen volgens de internationale testnormen ASTM 97, ASTM 1347, ASTM D4212, ISO 2814, ISO 3905, ISO 3906, ISO 6504-1, ISO 7724, DIN 5033, BSI 13900-D4 | |||
High-Performance UV-Vis-NIR Spectrometer – ASTM & ISO - Included items:
- Precision Infrared Reflectance Meter Spectrophotometer
- Kalibratiestandaard
- Zorgvuldig gekalibreerd
- Kalibratiecertificaat
- Kwaliteitscertificaat
- Uitgebreide garantie
- Levenslange ondersteuning
- Gebruikershandleiding
Vraag nu informatie aan over producten, prijzen, technische ondersteuning en professionele diensten.
Een van onze specialisten zal uw aanvraag zo spoedig mogelijk beantwoorden. U kunt ook contact met ons opnemen via de contactgegevens van onze vestigingen in de VS, Australië of het Verenigd Koninkrijk.
English
Danish
Dutch
Finnish
French
German
Greek
Irish
Italian
Luxembourgish
Norwegian
Norwegian
Portuguese
Scottish Gaelic
Spanish
Welsh