Descripción del producto:
Serie QPI-IRRM de Qualtech Products Industry UV-VIS-NIR Medidor de reflectancia infrarroja es de alta precisión Espectrofotómetro de reflectancia de alta precisión UV-VIS-NIR Diseñado para laboratorios profesionales, instalaciones de investigación óptica y entornos de control de calidad industrial. Diseñado para medir la reflectancia de la superficie en toda la De 250 nm a 1700 nm espectro, este Instrumento de medición de reflectancia superficial Ofrece resultados precisos, repetibles y con calibración estable para una amplia gama de materiales, incluidos recubrimientos solares, acabados de placas electrónicas, obleas de silicio, espejos metálicos, pigmentos, películas de pintura, láminas, plásticos, cerámica, textiles, polvos, pastas, papel, cartón, madera y superficies de ingeniería.
Construido en torno a una arquitectura de medición dual, el Analizador de reflectancia infrarroja combina un Cámara de reflectancia direccional de 45° con un Esfera integradora de 8° y 90° presentando >98% de reflexión interna, lo que permite una evaluación de la reflectancia tanto direccional como difusa con una precisión excepcional. Con Resolución de intervalo de longitud de onda de 1 nm, Repetibilidad del 1%, y tiempos de medición de 1 a 10 segundos, esto Medidor de reflectancia espectral Proporciona datos rápidos y fiables para la evaluación del rendimiento óptico y el desarrollo de materiales.
Tecnología avanzada de reflectancia UV-VIS-NIR
El Medidor de reflectancia infrarroja captura el comportamiento espectral completo de una superficie, generando detalles Curvas de reflectancia espectral esencial para analizar:
Comportamiento de reflectancia infrarroja
Respuesta espectral UV-VIS-NIR
Uniformidad y espesor del recubrimiento
eficacia del tratamiento de superficie
Absorción y dispersión de materiales
Características de color reflectante
La reflectancia se mide en Geometrías de 45°, 8° y 90°, lo que permite a los ingenieros evaluar tanto la reflexión direccional como la difusa en condiciones ópticas controladas.
Sistema de medición óptica de alta precisión
El Espectrofotómetro de reflectancia infrarroja integra:
Cámara de reflectancia de alta precisión de 45°
Esfera integradora de 8° y 90° (reflexión >98%)
Fuente de luz infrarroja/visible/UV avanzada
Resolución de intervalo de longitud de onda de 1 nm
Calibración automática con patrón de referencia certificado.
Ciclos de medición instantáneos (1–10 segundos)
1% de precisión y 1% de repetibilidad
Configuraciones de longitud de onda personalizadas opcionales
Este sistema óptico garantiza mediciones estables y repetibles, adecuadas tanto para la investigación de laboratorio como para los entornos de producción industrial.
Gama de modelos: Línea de medición de reflectancia UV-VIS-NIR
Medidor de reflectancia infrarroja 250–800 nm
Análisis de reflectancia UV-VIS para recubrimientos, pigmentos y materiales ópticos que requieren evaluación en el rango ultravioleta cercano.
Medidor de reflectancia infrarroja 400–1000 nm
Medición de reflectancia VIS-NIR para recubrimientos solares, superficies industriales y pruebas ópticas generales.
Medidor de reflectancia infrarroja 900–1700 nm
Análisis de reflectancia en el infrarrojo cercano profundo para materiales semiconductores, obleas de silicio y sustratos ópticos avanzados.
Todos los modelos son compatibles configuraciones de longitud de onda personalizadas para aplicaciones especializadas.
Software de análisis espectral y colorimétrico
El Software de medición de reflectancia proporciona:
Curvas de reflectancia espectral en tiempo real
Lab y análisis de reflectancia colorimétrica XYZ
Herramientas de comparación de múltiples muestras
Exportación de datos (formatos CSV, PDF e imagen)
Integración de almacenamiento en red
Informes y documentación automatizados
Archivo y compartición de datos a largo plazo
Los ingenieros pueden visualizar, comparar y documentar instantáneamente el comportamiento de la reflectancia en todo el espectro UV-VIS-NIR.
Diseñado para la precisión en ingeniería.
El Medidor de reflectancia infrarroja Combina ingeniería óptica avanzada con usabilidad práctica:
Navegación de menú intuitiva
Manipulación ergonómica de muestras
Ciclos de medición rápidos
Chasis industrial robusto
Conectividad perfecta con el PC
Rendimiento fiable a largo plazo
Ya sea que se utilice en I+D, control de calidad de producción o desarrollo de materiales ópticos, este profesional Espectrofotómetro de reflectancia UV-VIS-NIR Ofrece la precisión, la estabilidad y la profundidad analítica que requieren los flujos de trabajo de ingeniería modernos.
Este medidor de reflectancia UV-VIS profesional de alta precisión está diseñado y fabricado de acuerdo con las normas de prueba internacionales, que incluyen:
- ASTM E97 (Métodos de ensayo normalizados para determinar el factor de reflectancia direccional, 45°-0°, de muestras opacas mediante reflectometría con filtro de banda ancha)
- ASTM D1347 (Método de ensayo estándar para la medición del color y la diferencia de color mediante colorimetría triestimular)
- ISO 2814 (Pinturas y barnices — Comparación del índice de contraste (poder cubriente) de pinturas del mismo tipo y color)
- ISO 3905 (Pinturas y barnices — Determinación de la relación de contraste (opacidad) de las pinturas de colores claros con un rendimiento de aplicación fijo (mediante cartas de colores en blanco y negro))
- ISO 3906 (Pinturas y barnices — Determinación de la relación de contraste (opacidad) de las pinturas de colores claros con un rendimiento de aplicación fijo (utilizando una película de poliéster))
- ISO 6504-1 (Pinturas y barnices. Determinación del poder cubriente. Parte 1: Método de Kubelka-Munk para pinturas blancas y de colores claros)
- ISO 7724 (Pinturas y barnices — Colorimetría — Parte 1: Principios)
- DIN 5033 (Colorimetría; sistemas colorimétricos normalizados)
- BSI 13900-D4
Espectrofotómetro de esfera integradora UV-VIS-NIR 250nm–1700nm - Aplicación:
El Medidor de reflectancia infrarroja es un profesional Dispositivo de medición de reflectancia UV-VIS-NIR diseñado para análisis de superficies de alta precisión en toda la De 250 nm a 1700 nm rango de longitud de onda. Este escritorio Espectrofotómetro de reflectancia cuenta con calibración automática y mide ambos reflectancia superficial y color reflectante sobre una amplia variedad de materiales, incluidos paneles solares, recubrimientos de placas electrónicas, obleas de silicio, espejos metálicos, pigmentos, películas de pintura, láminas, plásticos, cerámica, textiles, polvos, pastas, papel, cartón, madera, vidrio, metal, tinta y superficies de muestras relacionadas.
Este avanzado Instrumento de medición de reflectancia superficial integra un Cámara de reflectancia de alta precisión de 45° y un Esfera integradora óptica de 8° y 90° con >98% de reflexión interna, Permite la medición de la reflectancia direccional y difusa. El sistema incluye conectividad perfecta con PC, software de análisis profesional y un estándar de calibración certificado para garantizar mediciones de alta precisión con solo pulsar un botón.
La reflectancia describe la capacidad de una superficie para devolver la luz incidente a una longitud de onda, ángulo y polarización específicos. El resultado Espectro de reflectancia se muestra como un Curva de reflectancia espectral, proporcionando información detallada sobre el comportamiento del material en todo el rango UV-VIS-NIR.
El Medidor de reflectancia infrarroja apoya Resolución de intervalo de longitud de onda de 1 nm, Repetibilidad del 1%, y tiempos de medición de 1 a 10 segundos, lo que permite un control de calidad rápido y fiable para recubrimientos, películas, componentes ópticos y materiales de ingeniería. Las funciones de análisis avanzadas incluyen: Medición del espectro de reflectancia infrarroja, Medición del color espectral (Lab, XYZ)**, Análisis de películas reflectantes, Medición de la reflectividad de lentes ópticas, Detección de fósforo, Evaluación de paneles solares, Medición de la reflectancia de textiles y tejidos, Monitorización de la reflectancia química, y más.
Dual-Beam UV-Vis-NIR Spectrophotometer - NIR / MIR Surface & Coating Reflectance Meter - Features:
- La tecnología más reciente de Microchip
- La tecnología más avanzada en fuentes de luz
- La tecnología más avanzada en cámaras
- Cámara de reflectancia de alta precisión de 45°
- Esfera integradora de reflectancia de 8° y 90°
- Medición instantánea de la reflectancia
- Análisis instantáneo de la reflectancia
- Análisis del espectro de reflectancia en el infrarrojo
- Selección de colores y análisis de muestras de color
- Análisis espectral de la reflectancia de muestras sólidas y en polvo
- Medición de la reflectividad de películas reflectantes y no reflectantes
- Medición estándar de la reflectancia
- Medición de la reflectividad de lentes ópticas
- Detección de fósforo
- Análisis de paneles solares
- Análisis textil y análisis de tejidos
- Monitorización de la reflectancia química
- Análisis químico
- Determina la opacidad y el poder de ocultación con solo pulsar un botón
- Calibración automática
- Aplicación fácil de usar
- Manejo de muestras sencillo
- Navegación intuitiva por los menús
- Conectividad fluida con el ordenador y software para ordenador
- Aplicación profesional
- Alta exactitud y alta precisión
- Diseño ergonómico y rendimiento fiable
- Diseñado de acuerdo con normas internacionales de ensayo, entre las que se incluyen ASTM 97, ASTM 1347, ASTM D4212, ISO 2814, ISO 3905, ISO 3906, ISO 6504-1, ISO 7724, DIN 5033 y BSI 13900-D4
UV-VIS-NIR Integrating Sphere Spectrophotometer – Specifications:
| Modelo | QPI-IRRM1800 | QPI-IRRM2800 | QPI-IRRM3800 |
|---|---|---|---|
| Rango de medición | 0 - 100.0% | 0 - 100.0% | 0 - 100.0% |
| Longitud de onda de medición | 250 nm - 800 nm | 400 nm - 1000 nm | 900 nm - 1700 nm |
| Longitud de onda de medición personalizada | Opcional Disponible | Opcional Disponible | Opcional Disponible |
| Método de medición | Cámara de reflectancia de alta precisión de 45° Esfera integradora de reflectancia de 8° y 90° | Cámara de reflectancia de alta precisión de 45° Esfera integradora de reflectancia de 8° y 90° | Cámara de reflectancia de alta precisión de 45° Esfera integradora de reflectancia de 8° y 90° |
| Intervalo de longitudes de onda | 1 nm | 1 nm | 1 nm |
| Tiempo de medición | 2 s | 1 s | 10 s |
| Precisión | 1% | 1% | 1% |
| Repetibilidad | 1% | 1% | 1% |
| Reflexión de una esfera integrada | >98% | >98% | >98% |
| La tecnología más avanzada en fuentes de luz | Sí | Sí | Sí |
| Fotosensores de alta precisión | Sí | Sí | Sí |
| Calibración automática | Sí | Sí | Sí |
| Alta precisión y alta exactitud | Sí | Sí | Sí |
| Aplicación fácil de usar | Sí | Sí | Sí |
| Manejo de muestras sencillo | Sí | Sí | Sí |
| Navegación intuitiva por los menús | Sí | Sí | Sí |
| Conectividad fluida con el ordenador y software para ordenador | Sí | Sí | Sí |
| Gran autonomía de la batería | Sí | Sí | Sí |
| Diseño ergonómico y rendimiento fiable | Sí | Sí | Sí |
| Diseñado de acuerdo con las normas internacionales de ensayo ASTM 97, ASTM 1347, ASTM D4212, ISO 2814, ISO 3905, ISO 3906, ISO 6504-1, ISO 7724, DIN 5033 y BSI 13900-D4 | |||
High-Performance UV-Vis-NIR Spectrometer – ASTM & ISO - Included items:
- Espectrofotómetro de reflectancia infrarroja de precisión
- Patrón de calibración
- Cuidadosamente calibrado
- Certificado de calibración
- Certificado de calidad
- Garantía ampliada
- Asistencia técnica de por vida
- Manual de usuario
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