Tuotekuvaus:
Qualtech Products Industry QPI-IRRM-sarja UV-VIS-NIR Infrapunaheijastusmittari on erittäin tarkka UV-VIS-NIR-tarkka heijastusspektrofotometri suunniteltu ammattilaboratorioihin, optiikan tutkimuslaitoksiin ja teollisiin laadunvalvontaympäristöihin. Suunniteltu mittaamaan pinnan heijastavuutta 250 nm - 1700 nm spektri, tämä Pinnan heijastavuuden mittauslaite tarjoaa tarkkoja, toistettavia ja kalibroinnin kannalta vakaita tuloksia monille eri materiaaleille, mukaan lukien aurinkopinnoitteet, elektroniikkalevyjen pintakäsittelyt, piikiekot, metallipeilit, pigmentit, maalikalvot, foliot, muovit, keramiikka, tekstiilit, jauheet, tahnat, paperi, pahvi, puu ja tekniset pinnat.
Kaksoismittausarkkitehtuurin ympärille rakennettu Infrapunaheijastuskykyanalysaattori yhdistää 45° suuntaava heijastuskamera kanssa 8° ja 90° integroiva pallo mukana >98% sisäinen heijastus, mikä mahdollistaa sekä suunnatun että hajaheijastuksen arvioinnin poikkeuksellisen tarkasti. 1 nm:n aallonpituusvälin resoluutio, 1%-toistettavuus, ja mittausajat 1–10 sekuntia, tämä Spektrinen heijastusmittari tarjoaa nopeaa ja luotettavaa tietoa optisen suorituskyvyn arviointiin ja materiaalien kehittämiseen.
Edistynyt UV-VIS-NIR-heijastustekniikka
Se Infrapunaheijastusmittari tallentaa pinnan täyden spektraalisen käyttäytymisen ja luo yksityiskohtaisia Spektraalisen heijastavuuden käyrät olennaista analysoinnissa:
Infrapunaheijastuskäyttäytyminen
UV-VIS-NIR-spektrivaste
Pinnoitteen tasaisuus ja paksuus
Pintakäsittelyn tehokkuus
Materiaalin absorptio ja sironta
Heijastavat väriominaisuudet
Heijastavuus mitataan kohdassa 45°, 8° ja 90° geometriat, jonka avulla insinöörit voivat arvioida sekä suuntaavaa että hajaheijastusta kontrolloiduissa optisissa olosuhteissa.
Huipputarkka optinen mittausjärjestelmä
Se Infrapunaheijastusspektrofotometri integroi:
45°:n tarkka heijastuskamera
8° ja 90° integroiva pallo (heijastus >98%)
Edistynyt infrapuna-/näkyvän/UV-valonlähde
1 nm:n aallonpituusvälin resoluutio
Automaattinen kalibrointi sertifioidulla referenssistandardilla
Välittömät mittausjaksot (1–10 sekuntia)
1%-tarkkuus ja 1%-toistettavuus
Valinnaiset mukautetut aallonpituusasetukset
Tämä optinen järjestelmä varmistaa vakaat ja toistettavat mittaukset, jotka sopivat sekä laboratoriotutkimus- että teollisuustuotantoympäristöihin.
Mallivalikoima – UV-VIS-NIR-heijastusmittauslinja
Infrapunaheijastusmittari 250–800 nm
UV-VIS-heijastuskykyanalyysi pinnoitteille, pigmenteille ja optisille materiaaleille, jotka vaativat lähi-UV-arviointia.
Infrapunaheijastusmittari 400–1000 nm
VIS-NIR-heijastuskyvyn mittaus aurinkopinnoitteille, teollisuuspinnoille ja yleiseen optiseen testaukseen.
Infrapunaheijastusmittari 900–1700 nm
Syvä-NIR-heijastuskykyanalyysi puolijohdemateriaaleille, piikiekoille ja edistyneille optisille alustoille.
Kaikki mallit tukevat mukautetut aallonpituusasetukset erikoissovelluksiin.
Spektri- ja kolorimetrianalyysiohjelmisto
Se Heijastusmittausohjelmisto tarjoaa:
Reaaliaikaiset spektraaliset heijastuskäyrät
Lab- ja XYZ-kolorimetrinen heijastuskykyanalyysi
Usean näytteen vertailutyökalut
Tiedon vienti (CSV, PDF, kuvamuodot)
Verkkotallennuksen integrointi
Automatisoitu raportointi ja dokumentointi
Pitkäaikainen tietojen arkistointi ja jakaminen
Insinöörit voivat visualisoida, vertailla ja dokumentoida heijastuskäyttäytymistä välittömästi koko UV-VIS-NIR-spektrin alueella.
Suunniteltu tarkkuutta varten
Se Infrapunaheijastusmittari yhdistää edistyneen optisen suunnittelun käytännölliseen käytettävyyteen:
Intuitiivinen valikkonavigointi
Ergonominen näytteenkäsittely
Nopeat mittaussyklit
Kestävä teollisuusalusta
Saumaton tietokoneyhteys
Luotettava pitkäaikainen suorituskyky
Käytettiinpä tätä ammattilaista tutkimus- ja kehitystyössä, tuotannon laadunvalvonnassa tai optisten materiaalien kehittämisessä UV-VIS-NIR-heijastusspektrofotometri tarjoaa nykyaikaisten suunnittelutyönkulkujen vaatimaa tarkkuutta, vakautta ja analyyttistä syvyyttä.
Tämä ammattimainen UV-VIS-heijastuskykymittari on suunniteltu ja valmistettu kansainvälisten testausstandardien mukaisesti, mukaan lukien:
- ASTM E97 (Standardi: Suuntaisen heijastuskertoimen, 45°–0°, mittaaminen läpinäkymättömistä näytteistä laajakaistaisella suodatinheijastusmittauksella)
- ASTM D1347 (Värin ja värierojen mittaamisen standarditestimenetelmä kolmiärsykekoloriometrian avulla)
- ISO 2814 (Maalit ja lakat — Saman tyyppisten ja väristen maalien kontrastisuhteen (peittokyvyn) vertailu)
- ISO 3905 (Maalit ja lakat — Vaaleiden maalien kontrastisuhteen (peittokyvyn) määrittäminen tietyllä levitysmäärällä (mustavalkoisten testikuvioiden avulla))
- ISO 3906 (Maalit ja lakat — Vaaleiden maalien kontrastisuhteen (peittokyvyn) määrittäminen tietyllä levitysmäärällä (polyesterikalvon avulla))
- ISO 6504-1 (Maalit ja lakat – Peittokyvyn määrittäminen – Osa 1: Kubelka-Munk-menetelmä valkoisille ja vaaleille maaleille)
- ISO 7724 (Maalit ja lakat – Kolorimetria – Osa 1: Periaatteet)
- DIN 5033 (Kolorimetria; standardikolorimetriset järjestelmät)
- BSI 13900-D4
UV-VIS-NIR-integroiva pallospektrofotometri 250 nm–1700 nm - Käyttö:
Se Infrapunaheijastusmittari on ammattilainen UV-VIS-NIR-heijastusmittauslaite suunniteltu erittäin tarkkaan pinta-analyysiin kaikkialla 250 nm - 1700 nm aallonpituusalue. Tämä pöytätietokone Heijastusspektrofotometri sisältää automaattisen kalibroinnin ja mittaa sekä pinnan heijastavuus ja heijastava väri monenlaisille materiaaleille, kuten aurinkopaneeleille, elektronisten piirilevyjen pinnoitteille, piikiekoille, metallipeileille, pigmenteille, maalikalvoille, folioille, muoveille, keramiikalle, tekstiileille, jauheille, tahnoille, paperille, pahville, puulle, lasille, metallille, musteelle ja vastaaville näytepinnoille.
Tämä edistyksellinen Pinnan heijastavuuden mittauslaite integroi a:n 45°:n tarkka heijastuskamera ja yksi 8° ja 90° optinen integroiva pallo ja >98% sisäinen heijastus, mikä mahdollistaa sekä suuntaavan että hajaheijastusmittauksen. Järjestelmä sisältää saumattoman tietokoneyhteyden, ammattimaisen analyysiohjelmiston ja sertifioidun kalibrointistandardin, jotka takaavat tarkat mittaukset yhdellä painalluksella.
Heijastavuus kuvaa pinnan kykyä heijastaa tulevaa valoa tietyllä aallonpituudella, kulmalla ja polarisaatiolla. Tuloksena oleva Heijastusspektri näytetään muodossa Spektrinen heijastavuuskäyrä, joka tarjoaa yksityiskohtaisen kuvan materiaalien käyttäytymisestä UV-VIS-NIR-alueella.
Se Infrapunaheijastusmittari tukee 1 nm:n aallonpituusvälin resoluutio, 1%-toistettavuus, ja mittausajat 1–10 sekuntia, mikä mahdollistaa pinnoitteiden, kalvojen, optisten komponenttien ja teknisten materiaalien nopean ja luotettavan laadunvalvonnan. Edistyneisiin analyysitoimintoihin kuuluvat Infrapunaheijastusspektrin mittaus, Spektrinen värimittaus (Lab, XYZ)**, Heijastavan kalvon analyysi, Optisten linssien heijastavuuden mittaus, Fosforin havaitseminen, Aurinkopaneelien arviointi, Tekstiilien ja kankaiden heijastavuusmittaus, Kemiallisen heijastavuuden seuranta, ja paljon muuta.
Dual-Beam UV-Vis-NIR Spectrophotometer - NIR / MIR Surface & Coating Reflectance Meter - Features:
- Uusin Microchip-tekniikka
- Uusin valonlähdeteknologia
- Uusin kameratekniikka
- Erittäin tarkka heijastuskamera, 45°
- Heijastavuuden integrointipallo 8° ja 90°
- Välitön heijastavuusmittaus
- Välitön heijastavuusanalyysi
- Infrapunasäteilyn heijastusspektrin analyysi
- Värien valinta ja värinäytteiden analysointi
- Kiinteiden näytteiden ja jauheiden spektrinen heijastavuusanalyysi
- Heijastavan ja heijastamattoman kalvon heijastavuusmittaus
- Vakiomuotoinen heijastavuusmittaus
- Optisten linssien heijastavuuden mittaus
- Fosforin havaitseminen
- Aurinkopaneelien analyysi
- Tekstiilianalyysi ja kankaan analyysi
- Kemiallisen heijastavuuden seuranta
- Kemiallinen analyysi
- Määritä peittävyys ja peittokyky yhdellä painikkeen painalluksella
- Automaattinen kalibrointi
- Käyttäjäystävällinen sovellus
- Käyttäjäystävällinen näytteiden käsittely
- Intuitiivinen valikkokäyttö
- Saumaton yhteys tietokoneeseen ja tietokoneohjelmistot
- Ammattikäyttö
- Korkea tarkkuus ja korkea tarkkuusaste
- Ergonominen muotoilu ja luotettava suorituskyky
- Suunniteltu kansainvälisten testausstandardien mukaisesti, mukaan lukien ASTM 97, ASTM 1347, ASTM D4212, ISO 2814, ISO 3905, ISO 3906, ISO 6504-1, ISO 7724, DIN 5033 ja BSI 13900-D4
UV-VIS-NIR Integrating Sphere Spectrophotometer – Specifications:
| Malli | QPI-IRRM1800 | QPI-IRRM2800 | QPI-IRRM3800 |
|---|---|---|---|
| Mittausalue | 0 - 100.0% | 0 - 100.0% | 0 - 100.0% |
| Mittaus Aallonpituus | 250 nm – 800 nm | 400 nm – 1 000 nm | 900 nm – 1700 nm |
| Räätälöity mittausaallonpituus | Valinnainen Saatavilla | Valinnainen Saatavilla | Valinnainen Saatavilla |
| Mittausmenetelmä | Erittäin tarkka heijastuskamera, 45° Heijastavuuden integrointipallo 8° ja 90° | Erittäin tarkka heijastuskamera, 45° Heijastavuuden integrointipallo 8° ja 90° | Erittäin tarkka heijastuskamera, 45° Heijastavuuden integrointipallo 8° ja 90° |
| Aallonpituusväli | 1 nm | 1 nm | 1 nm |
| Mittausajankohta | 2 s | 1 s | 10 sekuntia |
| Tarkkuus | 1% | 1% | 1% |
| Toistettavuus | 1% | 1% | 1% |
| Integroituneen pallon heijastus | >98% | >98% | >98% |
| Uusin valonlähdeteknologia | Kyllä | Kyllä | Kyllä |
| Erittäin tarkat valosensorit | Kyllä | Kyllä | Kyllä |
| Automaattinen kalibrointi | Kyllä | Kyllä | Kyllä |
| Korkea tarkkuus ja korkea luotettavuus | Kyllä | Kyllä | Kyllä |
| Käyttäjäystävällinen sovellus | Kyllä | Kyllä | Kyllä |
| Käyttäjäystävällinen näytteiden käsittely | Kyllä | Kyllä | Kyllä |
| Intuitiivinen valikkokäyttö | Kyllä | Kyllä | Kyllä |
| Saumaton yhteys tietokoneeseen ja tietokoneohjelmistot | Kyllä | Kyllä | Kyllä |
| Pitkä akunkesto | Kyllä | Kyllä | Kyllä |
| Ergonominen muotoilu ja luotettava suorituskyky | Kyllä | Kyllä | Kyllä |
| Suunniteltu kansainvälisten testausstandardien ASTM 97, ASTM 1347, ASTM D4212, ISO 2814, ISO 3905, ISO 3906, ISO 6504-1, ISO 7724, DIN 5033, BSI 13900-D4 | |||
High-Performance UV-Vis-NIR Spectrometer – ASTM & ISO - Included items:
- Tarkkuusinfrapunaheijastusmittarin spektrofotometri
- Kalibrointistandardi
- Huolellisesti kalibroitu
- Kalibrointitodistus
- Laatusertifikaatti
- Laajennettu takuu
- Elinikäinen tuki
- Käyttöopas
Hanki nyt tietoa tuotteista, hinnoista, teknisestä tuesta ja asiantuntijapalveluista.
Yksi asiantuntijoistamme vastaa kyselyysi pian. Voit myös ottaa meihin yhteyttä Yhdysvalloissa, Australiassa tai Isossa-Britanniassa sijaitsevien toimipisteidemme yhteystietojen kautta.
English
Danish
Dutch
Finnish
French
German
Greek
Irish
Italian
Luxembourgish
Norwegian
Norwegian
Portuguese
Scottish Gaelic
Spanish
Welsh