UV-VIS-NIR Integrating Sphere Spectrophotometer
Series QPI-IRRM (250–1700nm)
Benchtop UV-Vis-NIR Spectrophotometer
UV-Vis-NIR Spectrometer with Integrating Sphere
Dual-Beam UV-Vis-NIR Spectrophotometer
Full-Spectrum Optical Transmittance Spectrophotometer
Wide-Band UV-Vis-NIR Spectrophotometer
Diffuse Reflectance & Transmission Spectrophotometer
High-Performance UV-Vis-NIR Spectrometer
Μετρητής ανακλαστικότητας
Μετρητής ανακλαστικότητας υπέρυθρης ακτινοβολίας
Μετρητής ηλιακής ανακλαστικότητας
Φασματοφωτόμετρο ανάκλασης
Ανακλαστικό φασματοφωτόμετρο χρώματος
Μετρητής ανακλαστικότητας στέγης
Μετρητής ανακλαστικότητας για επιτραπέζια χρήση
ASTM E97 ASTM D1347 ASTM D4212
ISO 2814, ISO 3905, ISO 3906
ISO 6504-1 ISO 7724 DIN 5033
BSI 13900-D4

Περιγραφή προϊόντος:

Qualtech Products Industry QPI‑IRRM Series UV‑VIS‑NIR Μετρητής ανακλαστικότητας υπέρυθρης ακτινοβολίας is a high‑accuracy UV‑VIS‑NIR High-Precision Reflectance Spectrophotometer engineered for professional laboratories, optical research facilities, and industrial quality‑control environments. Designed to measure surface reflectance across the 250 nm to 1700 nm spectrum, this Όργανο μέτρησης ανακλαστικότητας επιφάνειας delivers precise, repeatable, and calibration‑stable results for a wide range of materials including solar coatings, electronic board finishes, silicon wafers, metallic mirrors, pigments, paint films, foils, plastics, ceramics, textiles, powders, pastes, paper, cardboard, wood, and engineered surfaces.

Built around a dual‑measurement architecture, the Infrared Reflectance Analyzer συνδυάζει ένα 45° directional reflectance camera with an 8° & 90° integrating sphere featuring >98% internal reflection, enabling both directional and diffuse reflectance evaluation with exceptional accuracy. With 1 nm wavelength interval resolution, 1% repeatability, και measurement times from 1 to 10 seconds, αυτό Μετρητής φασματικής ανακλαστικότητας provides fast, reliable data for optical performance evaluation and material development.

Advanced UV‑VIS‑NIR Reflectance Technology

Το Μετρητής ανακλαστικότητας υπέρυθρης ακτινοβολίας captures the full spectral behavior of a surface, generating detailed Spectral Reflectance Curves essential for analyzing:

• Infrared reflectance behavior

• UV‑VIS‑NIR spectral response

• Coating uniformity and thickness

• Surface treatment effectiveness

• Material absorption and scattering

• Reflective color characteristics

Reflectance is measured at 45°, 8°, and 90° geometries, allowing engineers to evaluate both directional and diffuse reflection under controlled optical conditions.

High‑Precision Optical Measurement System

Το Φασματοφωτόμετρο ανάκλασης υπέρυθρης ακτινοβολίας integrates:

• 45° high‑precision reflectance camera

• 8° & 90° integrating sphere (>98% reflection)

• Advanced infrared/visible/UV light source

• 1 nm wavelength interval resolution

• Automatic calibration with certified reference standard

• Instant measurement cycles (1–10 seconds)

• 1% accuracy and 1% repeatability

• Optional custom wavelength configurations

This optical system ensures stable, repeatable measurements suitable for both laboratory research and industrial production environments.

Model Range – UV‑VIS‑NIR Reflectance Measurement Line

Infrared Reflectance Meter 250–800 nm

UV‑VIS reflectance analysis for coatings, pigments, and optical materials requiring near‑UV evaluation.

Infrared Reflectance Meter 400–1000 nm

VIS‑NIR reflectance measurement for solar coatings, industrial surfaces, and general optical testing.

Infrared Reflectance Meter 900–1700 nm

Deep‑NIR reflectance analysis for semiconductor materials, silicon wafers, and advanced optical substrates.

All models support custom wavelength configurations for specialized applications.

Spectral & Colorimetric Analysis Software

Το Reflectance Measurement Software provides:

• Real‑time spectral reflectance curves

• Lab and XYZ colorimetric reflectance analysis

• Multi‑sample comparison tools

• Data export (CSV, PDF, image formats)

• Network storage integration

• Automated reporting and documentation

• Long‑term data archiving and sharing

Engineers can instantly visualize, compare and document reflectance behavior across the full UV‑VIS‑NIR spectrum.

Designed for Engineering Precision

Το Μετρητής ανακλαστικότητας υπέρυθρης ακτινοβολίας combines advanced optical engineering with practical usability:

• Intuitive menu navigation

• Ergonomic sample handling

• Fast measurement cycles

• Robust industrial chassis

• Seamless PC connectivity

• Reliable long‑term performance

Whether used in R&D, production quality control, or optical material development, this professional UV‑VIS‑NIR Reflectance Spectrophotometer delivers the precision, stability, and analytical depth required by modern engineering workflows.

This professional UV-VIS High-Precision Reflectance Meter is designed and engineered in accordance with international test standards including:

• ASTM E97 (Πρότυπες μέθοδοι δοκιμής για τον συντελεστή κατευθυντικής ανακλαστικότητας, 45°-0°, αδιαφανών δειγμάτων με ανακλαστομετρία ευρείας ζώνης)
• ASTM D1347 (Πρότυπη μέθοδος δοκιμής για τη μέτρηση του χρώματος και της διαφοράς χρώματος με τη μέθοδο της τριστιμουλικής χρωματομετρίας)
• ISO 2814 (Χρώματα και βερνίκια — Σύγκριση του λόγου αντίθεσης (δύναμη κάλυψης) χρωμάτων του ίδιου τύπου και χρώματος)
• ISO 3905 (Χρώματα και βερνίκια — Προσδιορισμός του λόγου αντίθεσης (αδιαφάνεια) ανοιχτόχρωμων χρωμάτων σε σταθερό ρυθμό επάλειψης (με χρήση μαύρων και λευκών διαγραμμάτων))
• ISO 3906 (Χρώματα και βερνίκια — Προσδιορισμός του λόγου αντίθεσης (αδιαφάνεια) ανοιχτόχρωμων χρωμάτων σε σταθερό ρυθμό επάλειψης (με χρήση μεμβράνης πολυεστέρα))
• ISO 6504-1 (Χρώματα και βερνίκια — Προσδιορισμός της καλυπτικής ικανότητας — Μέρος 1: Μέθοδος Kubelka-Munk για λευκά και ανοιχτόχρωμα χρώματα)
• ISO 7724 (Χρώματα και βερνίκια — Χρωματομετρία — Μέρος 1: Αρχές)
• DIN 5033 (Χρωματομετρία· πρότυπα χρωματομετρικά συστήματα)
• BSI 13900-D4