Heb je je ooit afgevraagd hoe microelektronische componenten fysieke belasting kunnen weerstaan? De MIL-STD-883 methode 2004.7, beter bekend als de Lead/Bend Stress test, evalueert de duurzaamheid van de aansluitingen van microelektronische componenten en hun verbindingen met de behuizing. Deze T-buigtest helpt bepalen of deze cruciale verbindingen bestand zijn tegen mechanische belasting tijdens hantering, installatie en gebruik. Het primaire doel van deze test is...