¿Alguna vez se ha preguntado cómo resisten los componentes microelectrónicos la tensión física? El método MIL-STD-883 2004.7, conocido comúnmente como prueba de esfuerzo de flexión de cables, evalúa la durabilidad de los cables de los dispositivos microelectrónicos y sus conexiones al encapsulado. Esta prueba de flexión en T ayuda a determinar si estas conexiones cruciales pueden soportar la tensión mecánica durante la manipulación, la instalación y el funcionamiento. El objetivo principal de esta prueba…