Produktbeskrivelse:
Qualtech-produkter – Industri Måler til overfladeruhed er et avanceret Overfladeprofilometer for straks at måle Overfladestruktur af prøven med et enkelt tryk på en knap, både på laboratoriet og på farten.
Den Overfladeruhed for en prøve er prøveoverfladens tekstur, der defineres som den lodrette afvigelse mellem prøveoverfladen og dens ideelle overflade. Med stigende afvigelse øges graden af Råhed bliver tykkere, og overfladen på prøven får mere struktur.
Denne professionelle Måler til overfladeruhed er udviklet og konstrueret med den nyeste mikrochipteknologi kombineret med et stort LCD-display, komfortable softtouch-knapper, et holdbart design af høj kvalitet, brugervenlig betjening, brugervenlig prøvehåndtering, en ikke-destruktiv prøveanalysemetode, høj nøjagtighed og høj præcision, et ergonomisk design, pålidelig ydeevne, lang levetid og meget mere.
Dette Profilometer udfører øjeblikkelige prøvemålinger og er velegnet til en bred vifte af prøver.
Denne overfladeruhedsmåler er udviklet og konstrueret i overensstemmelse med internationale teststandarder, herunder:
- ASTM D7127 (Standardprøvningsmetode til måling af overfladeruhed på metaloverflader, der er renset ved sandblæsning, ved hjælp af et bærbart stylusinstrument)
- ISO 4287:1997 (Geometriske produktspecifikationer (GPS) — Overfladestruktur: Profilmetoden — Begreber, definitioner og parametre for overfladestruktur)
- DIN 4768:1990-05 (Bestemmelse af værdier for overfladeruhedsparametre Rₐ, Rz, Rₘₐₓ ved hjælp af instrumenter med elektrisk kontakt (stift); begreber og målebetingelser)
Profilometer – Funktioner:
- Den nyeste mikrochipteknologi
- Stort LCD-farveskærm
- Øjeblikkelig måling af overfladeruhed
- Detektor med høj opløsning
- Avanceret, holdbar teknologi
- Brugervenlig applikation
- Brugervenlig håndtering af prøver
- Lang batterilevetid
- Høj præcision og høj repeterbarhed
- Ergonomisk design
- Pålidelig ydeevne og lang levetid
- Udviklet i overensstemmelse med internationale teststandarder, herunder ASTM D7127, ISO 4287 og DIN 4768
Rugosimeter – Tekniske specifikationer:
| Model | QPI-SPM1800 | QPI-SPM2800 |
|---|---|---|
| Stort LCD-display | Ja | Ja |
| Teststandard | ASTM D7127 ISO 4287 DIN 4768 ANSI 1461 | ASTM D7127 ISO 4287 DIN 4768 ANSI 1461 |
| Måleområde | 0,0 µm – 320 µm Ra 0,0 µm – 80,0 µm | Ra 0,05 – 10,0 µm Rz 0,1 – 50 µm |
| Måleparametre | Ra, Rq, Rz, Rt, Rp, Rv, RS, RSm, Ry, RSk, R3z, Rmax, Rpc, Rmr, Rku | Ra, Rz, Rq, Rt |
| Nøjagtighed | ≤±10% | ≤±15% |
| Beslutning | 0,01 µm <20 µm 0,02 µm <40 µm 0,04 µm <80 µm 0,08 µm <160 µm | 0,01 µm |
| Digitalt filter | RC, PC-RC, Gauss, DP | |
| Stylusradius | 5 µm Diamantkegle | 10 µm |
| Krydsningslængde Lt | 0,25 mm, 0,80 mm, 2,5 mm | 0,25 mm, 0,80 mm, 2,5 mm |
| Evalueringslængde Ln | Ln = lr × n, hvor n = 1–5 | 1,25 mm, 4,0 mm, 5,0 mm |
| Automatisk kalibrering | Ja | Ja |
| Høj nøjagtighed og høj præcision | Ja | Ja |
| Genopladeligt batteri | Ja | Ja |
| Lang batterilevetid | Ja | Ja |
| Ergonomisk design | Ja | Ja |
| Pålidelig ydeevne og lang levetid | Ja | Ja |
| Udviklet i overensstemmelse med internationale teststandarder, herunder ASTM D7127, ISO 4287 og DIN 4768 | ||
Overfladeruhedsmåler – Medfølgende dele:
- Professionelt måleinstrument til overfladeruhed
- Tilbehør
- Kvalitetscertifikat
- Omhyggeligt kalibreret
- Kalibreringscertifikat
- Brugervejledning
- Udvidet garanti
- Livstidsstøtte
Få oplysninger nu om produkter, priser, teknisk support og professionelle tjenester.
En af vores specialister vil snart svare på din forespørgsel. Du kan også kontakte os via vores kontaktoplysninger i USA, Australien eller Storbritannien.
English
Danish
Dutch
Finnish
French
German
Greek
Irish
Italian
Luxembourgish
Norwegian
Norwegian
Portuguese
Scottish Gaelic
Spanish
Welsh