Περιγραφή προϊόντος:
Βιομηχανία προϊόντων Qualtech Μετρητής υπέρυθρης ανάκλασης είναι επαγγελματίας Desktop Reflectance Measurement Device with automatic calibration to measure the Reflectance και το Reflective Color in the Infrared Wavelength Range of samples and sample surfaces including solar panels, electronic board coatings, silicon wafers, surface coatings, aluminum mirrors, pigments, glass mirrors, paint films, foils, paper, cardboard, plastic, pastes, powders, ceramics, textiles, glass, wood, metal, ink, paint and related sample materials.
Αυτό Solar Reflectance Meter είναι επαγγελματίας Reflectance Measurement Instrument και Reflectance Measurement Spectrophotometer με Reflectance Measurement Sensors, an Optical Integrative Reflective Sphere, a seamless PC Connectivity and PC Software and includes a Calibration Standard to ensure the high accuracy of your sample measurements at the touch of a button.
Reflectance is the capability of a surface to reflect Incident Light με ένα καθορισμένο Μήκος κύματος φωτός at a specified Angle of Incidence and a specified Polarization.
ο Reflectance Spectrum υποδηλώνει το Wavelength of the Reflection and is presented as a Spectral Reflectance Curve ή α Spectral Reflectance Graph.
Incident Light είναι Light which falls on a surface with a specific Μήκος κύματος φωτός, it can be Natural Light ή Artificial Light, for example, an Infrared Light Source.
Αυτή η υψηλή ακρίβεια Μετρητής υπέρυθρης ανάκλασης και Infrared Reflectance Spectrophotometer offers different Reflectance Measurement Programs and seamless PC-Connectivity and a PC Software to conveniently analyze Reflectance Measurement Results and export and store data on your Laboratory PC Network or on your Laptop for additional data analysis, data documentation, data presentation, data storage, data sharing and much more.
Αυτός ο επαγγελματίας Infrared Reflectance Spectrophotometer is designed and engineered offering the newest microchip technology combined with a high-precision Reflectance Measurement Camera, instant Reflectance Measurement, instant Reflectance Analysis, high-precision Reflectance Camera 45°, Reflectance Integrating Sphere 8° and 90°, wide range of Automatic Online Industrial Detection Programs, Spectral Reflectance Color Measurement and Spectrophotometry, L*a*b Reflectance Color Measurement, XYZ Reflectance Color Measurement, advanced high-precision Light Source, Sample Measurement Wavelength 250nm - 1700nm, optional Wavelength Customization available, user-friendly Application, intuitive Menu Navigation, a user-friendly Sample Handling, an ergonomic Design, reliable Performance, a seamless PC-Connectivity and PC-Software for advanced data management, sample data analysis, data presentation, data sharing and much more.
This professional Solar Reflectance Meter is designed and engineered in accordance with international test standards including:
- ASTM E97 (Standard Test Methods for Directional Reflectance Factor, 45-Deg 0-Deg, of Opaque Specimens by Broad-Band Filter Feflectometry)
- ASTM D1347 (Standard Test Method for Color and Color-Difference Measurement by Tristimulus Colorimetry)
- ISO 2814 (Paints and varnishes — Comparison of contrast ratio (hiding power) of paints of the same type and colour)
- ISO 3905 (Paints and varnishes — Determination of contrast ratio (opacity) of light coloured paints at a fixed spreading rate (using black and white charts))
- ISO 3906 (Paints and varnishes — Determination of contrast ratio (opacity) of light coloured paints at a fixed spreading rate (using polyester film))
- ISO 6504-1 (Paints and varnishes — Determination of hiding power — Part 1: Kubelka-Munk method for white and light-coloured paints)
- ISO 7724 (Χρώματα και βερνίκια — Χρωματομετρία — Μέρος 1: Αρχές)
- DIN 5033 (Colorimetry; standard colorimetric systems)
- BSI 13900-D4
Solar Reflectance Meter - Application:
ο Μετρητής υπέρυθρης ανάκλασης είναι επαγγελματίας Desktop Reflectance Measurement Device with automatic calibration to measure the Reflectance and the Reflective Color in the Infrared Wavelength Range of samples and sample surfaces including solar panels, electronic board coatings, silicon wafers, surface coatings, aluminum mirrors, pigments, glass mirrors, paint films, foils, paper, cardboard, plastic, pastes, powders, ceramics, textiles, glass, wood, metal, ink, paint and related sample materials.
Αυτό Solar Reflectance Meter είναι προχωρημένος Reflectance Measurement Instrument και Reflectance Measurement Spectrophotometer with two Reflectance Measurement Sensors, a seamless PC Connectivity and PC Software and includes a Calibration Standard to ensure the high accuracy of your sample measurements at the touch of a button.
Reflectance is the capability of a surface to reflect Incident Light με ένα καθορισμένο Μήκος κύματος φωτός, at a specified Angle of Incidence and a specified Polarization.
ο Reflectance Spectrum υποδηλώνει το Wavelength of the Reflection and is presented as a Spectral Reflectance Curve ή α Spectral Reflectance Graph.
Incident Light είναι Light which falls on a surface with a specific Μήκος κύματος φωτός, it can be Natural Light ή Artificial Light.
The advanced and professional Reflectance Measurement και Reflectance Analysis includes Infrared Reflectance Spectrum Measurement, Color Selection for Color Samples, Spectral Reflectance Measurement of solid samples and powder samples, Reflectivity Measurement of Reflective Film and Non-Reflective Film, Standard Reflectance Measurement, Optical Lens Reflectivity Measurement, Phosphor Detection, Solar Panel Measurement, Textile Measurement and Fabric Measurement, Chemical Reflectance Monitoring, Chemical Analysis and much more.
Reflective Color Spectrophotometer - Features:
- Η πιο πρόσφατη τεχνολογία μικροτσίπ
- Newest Light Source Technology
- Newest Camera Technology
- High-Precision Reflectance Camera 45°
- Reflectance Integrating Sphere 8° & 90°
- Instant Reflectance Measurement
- Instant Reflectance Analysis
- Infrared Reflectance Spectrum Analysis
- Color Selection & Analysis of Color Samples
- Spectral Reflectance Analysis of solid samples & powder samples
- Reflectivity Measurement of Reflective Film & Non-Reflective Film
- Standard Reflectance Measurement
- Optical Lens Reflectivity Measurement
- Phosphor Detection
- Solar Panel Analysis
- Textile Analysis & Fabric Analysis
- Chemical Reflectance Monitoring
- Chemical Analysis
- Προσδιορίστε την αδιαφάνεια και την απόκρυψη ισχύος με το πάτημα ενός κουμπιού
- Αυτόματη βαθμονόμηση
- Φιλική προς το χρήστη Εφαρμογή
- Φιλικός προς τον χρήστη Χειρισμός δειγμάτων
- Διαισθητική πλοήγηση στο μενού
- Απρόσκοπτη Συνδεσιμότητα Η/Υ & Λογισμικό Η/Υ
- Επαγγελματική Εφαρμογή
- Υψηλή Ακρίβεια & Υψηλή Ακρίβεια
- Εργονομικός σχεδιασμός και αξιόπιστη απόδοση
- Engineered in accordance with international test standards including ASTM 97, ASTM 1347, ASTM D4212, ISO 2814, ISO 3905, ISO 3906, ISO 6504-1, ISO 7724, DIN5033, BSI 13900-D4
Μετρητής υπέρυθρης ανάκλασης - Προδιαγραφές:
| Μοντέλο | QPI-IRRM1800 | QPI-IRRM2800 | QPI-IRRM3800 |
|---|---|---|---|
| Εύρος μέτρησης | 0 - 100.0% | 0 - 100.0% | 0 - 100.0% |
| Measurement Wavelength | 250nm - 800nm | 400nm - 1000nm | 900nm - 1700nm |
| Customized Measurement Wavelength | Προαιρετικά Διαθέσιμο | Προαιρετικά Διαθέσιμο | Προαιρετικά Διαθέσιμο |
| Μέθοδος Μέτρησης | High-Precision Reflectance Camera 45° Reflectance Integrating Sphere 8° & 90° | High-Precision Reflectance Camera 45° Reflectance Integrating Sphere 8° & 90° | High-Precision Reflectance Camera 45° Reflectance Integrating Sphere 8° & 90° |
| Wavelength Interval | 1nm | 1nm | 1nm |
| Χρόνος μέτρησης | 2s | 1s | 10s |
| Ακρίβεια | 1% | 1% | 1% |
| Επαναληψιμότητα | 1% | 1% | 1% |
| Reflection of Integrated Sphere | >98% | >98% | >98% |
| Newest Light Source Technology | Ναί | Ναί | Ναί |
| High Precision Photo Sensors | Ναί | Ναί | Ναί |
| Αυτόματη βαθμονόμηση | Ναί | Ναί | Ναί |
| Υψηλή Ακρίβεια & Υψηλή Ακρίβεια | Ναί | Ναί | Ναί |
| Φιλική προς το χρήστη Εφαρμογή | Ναί | Ναί | Ναί |
| Φιλικός προς τον χρήστη Χειρισμός δειγμάτων | Ναί | Ναί | Ναί |
| Διαισθητική πλοήγηση στο μενού | Ναί | Ναί | Ναί |
| Απρόσκοπτη Συνδεσιμότητα Η/Υ & Λογισμικό Η/Υ | Ναί | Ναί | Ναί |
| Εκτεταμένη διάρκεια ζωής μπαταρίας | Ναί | Ναί | Ναί |
| Εργονομικός σχεδιασμός και αξιόπιστη απόδοση | Ναί | Ναί | Ναί |
| Engineered in accordance with international test standards ASTM 97, ASTM 1347, ASTM D4212, ISO 2814, ISO 3905, ISO 3906, ISO 6504-1, ISO 7724, DIN5033, BSI 13900-D4 | |||
Infrared Reflectance & Opacity Spectrophotometer – Συμπεριλαμβανόμενα είδη:
- Infrared Reflectance Meter & Infrared Opacity Spectrophotometer
- Πρότυπο βαθμονόμησης
- Προσεκτικά βαθμονομημένο
- Πιστοποιητικό βαθμονόμησης
- Πιστοποιητικό ποιότητας
- Εκτεταμένη Εγγύηση
- Υποστήριξη δια βίου
- Εγχειρίδιο χρήστη
Λάβετε πληροφορίες τώρα για προϊόντα, τιμές, τεχνική υποστήριξη και επαγγελματικές υπηρεσίες.
Ένας από τους ειδικούς μας θα απαντήσει στο ερώτημά σας σύντομα. Εναλλακτικά επικοινωνήστε μαζί μας μέσω των στοιχείων της εταιρείας στις ΗΠΑ, στην Αυστραλία ή στο Ηνωμένο Βασίλειο.
Ελληνικά 
English 
Dansk 
Deutsch 
Español 
Español de México 
Suomi 
Français 
Français du Canada 
Italiano 
Nederlands 
Svenska 
Português