Product beschrijving:
Qualtech-productenindustrie: Oppervlakteruwheidsmeter is een gevorderde Oppervlakteprofielmeter om direct de te meten Oppervlakte textuur monster met één druk op de knop in uw laboratorium en onderweg.
De Oppervlakteruwheid van een monster is de textuur van het monsteroppervlak gespecificeerd als de verticale afwijking van het monsteroppervlak van zijn ideale oppervlak. Bij een toenemende afwijking wordt het niveau van Ruwheid neemt toe en het monsteroppervlak vertoont meer textuur.
Deze professionele Oppervlakteruwheidsmeter is ontworpen en ontwikkeld en biedt de nieuwste microchiptechnologie gecombineerd met een groot LCD-scherm, comfortabele softtouch-knoppen, een duurzaam ontwerp van hoge kwaliteit, gebruiksvriendelijke toepassing, gebruiksvriendelijke monsterbehandeling, niet-destructieve monstertestmethode, hoge nauwkeurigheid en hoge precisie, een ergonomisch ontwerp, betrouwbare prestaties, een lange levensduur en nog veel meer.
Deze profielmeter voert directe monstermetingen uit en is geschikt voor een breed scala aan monsters.
Deze oppervlakteruwheidsmeter is ontworpen en ontwikkeld in overeenstemming met internationale testnormen, waaronder:
- ASTM D7127 (standaard testmethode voor het meten van oppervlakteruwheid van met schurende stralen gereinigde metalen oppervlakken met behulp van een draagbaar stylusinstrument)
- ISO 4287:1997 (Geometrische productspecificaties (GPS) - Oppervlaktetextuur: Profielmethode - Termen, definities en oppervlaktetextuurparameters)
- DIN 4768:1990-05 (Bepaling van waarden van oppervlakteruwheidsparameters Rₐ, Rz, Rₘₐₓ met behulp van elektrisch contact (stylus) instrumenten; concepten en meetomstandigheden)
Profielmeter - Kenmerken:
- Nieuwste Microchip-technologie
- Groot LCD-kleurenscherm
- Onmiddellijke meting van de oppervlakteruwheid
- Detector met hoge resolutie
- Geavanceerde duurzame technologie
- Gebruiksvriendelijke applicatie
- Gebruiksvriendelijke monsterverwerking
- Lange batterijduur
- Hoge precisie en hoge herhaalbaarheid
- Ergonomisch ontwerp
- Betrouwbare prestaties en levensduur
- Ontworpen in overeenstemming met internationale testnormen, waaronder ASTM D7127, ISO 4287, DIN 4768
Rugosimeter – Specificaties:
| Model | QPI-SPM1800 | QPI-SPM2800 |
|---|---|---|
| Groot LCD-scherm | Ja | Ja |
| Teststandaard | ASTM D7127 ISO 4287 DIN 4768 ANSI 1461 | ASTM D7127 ISO 4287 DIN 4768 ANSI 1461 |
| Meetbereik | 0,0 µm - 320 µm Ra 0,0 µm - 80,0 µm | Ra 0,05 - 10,0 µm Rz 0,1 - 50 µm |
| Meetparameters: | Ra, Rq, Rz, Rt, Rp, Rv, RS, RSm, Ry, RSk, R3z, Rmax, Rpc, Rmr, Rku | Ra, Rz, Rq, Rt |
| Nauwkeurigheid | ≤±10% | ≤±15% |
| Oplossing | 0,01 µm <20 µm 0,02 µm <40 µm 0,04 µm <80 µm 0,08 µm <160 µm | 0,01 µm |
| Digitale filter | RC, PC-RC, Gauss, DP | |
| Stylusstraal | 5 µm Diamant kegel | 10 µm |
| Oversteeklengte Lt | 0,25 mm, 0,80 mm, 2,5 mm | 0,25 mm, 0,80 mm, 2,5 mm |
| Evaluatielengte Ln | Ln=lr xn, n=1 - 5 | 1,25 mm, 4,0 mm, 5,0 mm |
| Automatische kalibratie | Ja | Ja |
| Hoge nauwkeurigheid en hoge precisie | Ja | Ja |
| Oplaadbare batterij | Ja | Ja |
| Lange batterijduur | Ja | Ja |
| Ergonomisch ontwerp | Ja | Ja |
| Betrouwbare prestaties en levensduur | Ja | Ja |
| Ontworpen in overeenstemming met internationale testnormen, waaronder ASTM D7127, ISO 4287, DIN 4768 | ||
Oppervlakteruwheidsmeter - Inbegrepen items:
- Professionele oppervlakteruwheidsmeter
- Accessoires
- Kwaliteitscertificaat
- Zorgvuldig gekalibreerd
- Calibratie certificaat
- Handleiding
- Verlengde garantie
- Levenslange ondersteuning
Krijg nu informatie over producten, prijzen, technische ondersteuning en professionele diensten.
Een van onze specialisten zal uw vraag zo spoedig mogelijk beantwoorden. U kunt ook contact met ons opnemen via de bedrijfsgegevens in de VS, Australië of het VK.
Nederlands 
English 
Dansk 
Deutsch 
Ελληνικά 
Español 
Español de México 
Suomi 
Français 
Français du Canada 
Italiano 
Svenska 
Português